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集成电路失效分析_液晶热点探测技术

集成电路失效分析_液晶热点探测技术

集成电路失效分析_液晶热点探测技术

利用液晶在不同温度下的各向同性及各向异性特性,来探测集成电路是否有热点,效果请见附件视频。


附件

50x.mpg (1.69 MB)

2015-7-10 12:11, 下载次数: 739

e2-10xa.mpg (460.71 KB)

2015-7-10 12:11, 下载次数: 692

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